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它是一種延遲測量設備，支持所有類型的薄膜，例如用于 OLED 的偏光板、層壓延遲膜和帶有 IPS 液晶延遲膜的偏光板。 實現與超高Re.60000 nm兼容的高速、高精度測量。 可以“無損、無剝離”地測量薄膜的層壓狀態。 此外，它還配備了簡單的軟件和校正功能，支持因樣品重新定位而導致的錯位，可輕松實現高精度測量。
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它是一種可以在薄膜生產現場在線測量薄膜厚度的設備。 通過將開創的光譜干涉技術與新開發的高精度膜厚計算處理技術相結合，可以以至少0.01的測量間隔測量寬度為500mm（使用一臺時）的膜厚秒。
