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OTSUKA大塚電子MCPD-6800多通道光譜儀塔瑪薩崎電子代理這是一款多通道多通道光譜儀，適用于紫外到近紅外范圍。 光譜測量可在短短 5 ms 內完成。 標準儀器的光纖允許各種測量系統，而無需指定樣品種類。 除了顯微光譜、光源發光、透射和反射測量外，它還可以與軟件結合使用，以評估物體的顏色和薄膜厚度。
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OTSUKA大塚電子MCPD-9800多通道光譜儀塔瑪薩崎電子代理這是一款多通道多通道光譜儀，適用于紫外到近紅外范圍。 光譜測量可在短短 5 ms 內完成。 標準儀器的光纖允許各種測量系統，而無需指定樣品種類。 除了顯微光譜、光源發光、透射和反射測量外，它還可以與軟件結合使用，以評估物體的顏色和薄膜厚度。
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OTSUKA大塚電子OPTM-A3光學測量膜厚計塔瑪薩崎電子用簡單操作實現了高精度的光干涉法的膜厚測量的小型低價格的膜厚計。采用了將必要的機器收納在本體部的多功能一體式機箱，實現了穩定的數據獲取。雖然價格低，但通過取得**反射率，也可以分析光學常數。
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OTSUKA大塚電子OPTM-A2光學測量膜厚計塔瑪薩崎電子用簡單操作實現了高精度的光干涉法的膜厚測量的小型低價格的膜厚計。采用了將必要的機器收納在本體部的多功能一體式機箱，實現了穩定的數據獲取。雖然價格低，但通過取得**反射率，也可以分析光學常數。
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OTSUKA大塚電子OPTM-A1光學測量膜厚計塔瑪薩崎電子用簡單操作實現了高精度的光干涉法的膜厚測量的小型低價格的膜厚計。采用了將必要的機器收納在本體部的多功能一體式機箱，實現了穩定的數據獲取。雖然價格低，但通過取得**反射率，也可以分析光學常數。
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OTSUKA大塚電子FE-300F光學測量膜厚計塔瑪薩崎電子用簡單操作實現了高精度的光干涉法的膜厚測量的小型低價格的膜厚計。采用了將必要的機器收納在本體部的多功能一體式機箱，實現了穩定的數據獲取。雖然價格低，但通過取得**反射率，也可以分析光學常數。
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OTSUKA大塚電子ELSZneo粒徑儀 帶AS50塔瑪薩崎電子代理ELSZneo通過光散射評估物理性能到一個新的階段。除了在稀溶液~濃溶液中測量zeta電位和粒徑外，還可以測量分子量。 作為一項新功能，采用了多角度測量來提高粒度分布的分離能力。 它還可用于凝膠的顆粒濃度測量、微流變測量和網絡結構分析。
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OTSUKA大塚電nanoSAQLA粒徑儀塔瑪薩崎電子代理ELSZneo通過光散射評估物理性能到一個新的階段。除了在稀溶液~濃溶液中測量zeta電位和粒徑外，還可以測量分子量。 作為一項新功能，采用了多角度測量來提高粒度分布的分離能力。 它還可用于凝膠的顆粒濃度測量、微流變測量和網絡結構分析。
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OTSUKA大塚電子ELSZneoSE粒徑儀塔瑪薩崎電子代理ELSZneo通過光散射評估物理性能到一個新的階段。除了在稀溶液~濃溶液中測量zeta電位和粒徑外，還可以測量分子量。 作為一項新功能，采用了多角度測量來提高粒度分布的分離能力。 它還可用于凝膠的顆粒濃度測量、微流變測量和網絡結構分析。
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OTSUKA大塚電子ELSZneo粒徑儀塔瑪薩崎電子代理ELSZneo通過光散射評估物理性能到一個新的階段。除了在稀溶液~濃溶液中測量zeta電位和粒徑外，還可以測量分子量。 作為一項新功能，采用了多角度測量來提高粒度分布的分離能力。 它還可用于凝膠的顆粒濃度測量、微流變測量和網絡結構分析。
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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子半導體SiC測厚儀OPTM-F3，OTSUKA大塚半導體行業Si、氧化膜、氮化膜、SiC、SIO等檢測
