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日本HORIBA顯微拉曼光譜儀LabRAM高光譜分辨率研究級 日本HORIBA顯微拉曼光譜儀LabRAM高光譜分辨率研究級HORIBAScientific從事光學研發200年，其中拉曼光譜儀的研發與制造長達60多年，憑借法國長期以來的光學設計人才優勢與全心全意為客戶服務的企業理念，HORIBAScientific不斷地拉曼光譜技術的發展，2019年LabRAMOdyssey高速高分辨顯微共焦拉曼光譜儀應運而生。日本HORIBA顯微拉曼光譜儀LabRAM高光譜發布時間：2025-06-03 11:40 點擊次數：12 次
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日本HORIBA堀場|激光粒度分析儀 LA-350 | 01日本HORIBA堀場 LA-350儀器用途及應用范圍：HORIBA LA-350激光粒度分析儀是一款性能高、價格低、體積小巧的粒徑分析儀器。LA-350廣泛應用于漿料、礦物和造紙行業等多種領域。基于LA系列分析儀的先進光學設計，LA-350實現了高性能、易操作、低維護和高效益的優點。生物制藥乳液、微粉表征活性成分和輔料的粒度分布研磨過程控制造粒過程控制*終產品質量控制：糖漿、疫苗02日本HOR發布時間：2023-12-21 17:18 點擊次數：155 次
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日本HORIBA堀場:共聚焦拉曼光譜表征藍寶石襯底GaN外延層的界面應力 日本HORIBA堀場:共聚焦拉曼光譜表征藍寶石襯底GaN外延層的界面應力|前沿用戶報道共聚焦拉曼光譜表征藍寶石襯底GaN外延層的界面應力InterfacialstresscharacterizationofGaNepitaxiallayerwithsapphiresubstratebyconfocalRamanspectroscopy本文亮點不同的襯底上異質外延生長的GaN薄膜，通常在界面處存在一發布時間：2023-08-24 17:57 點擊次數：166 次
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日本HORIBA堀場:計量學，HORIBA 的顆粒檢測和去除系統對于提高半導體光刻工藝的產能至關重要。 日本HORIBA堀場:計量學，HORIBA的顆粒檢測和去除系統對于提高半導體光刻工藝的產能至關重要。日本HORIBA堀場:顆粒檢測系統半導體制程綜合顆粒檢測ForSemiconductormanufacturingprocesses,wherethemostadvancedmicro-fabricationtechniquesareused,qualitymanagementisacritical發布時間：2023-07-29 15:53 點擊次數：234 次
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日本HORIBA堀場/ 自動化薄膜測量工具/一鍵式全自動快速橢偏儀/Auto SE 日本HORIBA堀場橢圓偏振光譜儀i_Product_2065323049.html?_v=1690560008薄膜表征的有效技術橢圓偏振光譜是一種表面敏感、非破壞性、非侵入性的光學技術，廣泛應用于薄層和表面特征。它基于線偏振光經過薄膜樣品反射后偏振狀態發生的改變，通過模型擬合獲得厚度以及光學常數等。根據薄膜材料的不同，可測量的厚度從幾個?到幾十微米。橢圓偏振光譜是一種很好的多層膜測量技術。橢圓偏發布時間：2023-07-28 16:29 點擊次數：176 次
